MAPPING測(cè)試模塊

簡(jiǎn)要描述：MAPPING測(cè)試模塊：可在已有的測(cè)試系統(tǒng)中加入Mapping的測(cè)量功能，減少您為單獨(dú)采購(gòu)表面均勻性測(cè)試系統(tǒng)而多支付的一部分費(fèi)用。

產(chǎn)品型號(hào)：
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
更新時(shí)間：2024-01-18
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Mapping測(cè)試模塊可在已有的測(cè)試系統(tǒng)中加入Mapping的測(cè)量功能，減少您為單獨(dú)采購(gòu)表面均勻性測(cè)試系統(tǒng)而多支付的一部分費(fèi)用。

菲銳科技成立于2013年，研發(fā)始于2006年。為國(guó)內(nèi)外專業(yè)的光學(xué)光電實(shí)驗(yàn)室提供高準(zhǔn)確度的儀器用于產(chǎn)品測(cè)試、質(zhì)量監(jiān)督、科學(xué)研究等各種測(cè)量解決方案。
Pharos Technology（美國(guó)菲銳斯公司），主要致力于太陽(yáng)能電池（光電材料）測(cè)試系統(tǒng)的研發(fā)、各種光源、光譜測(cè)試設(shè)備、光電測(cè)試系統(tǒng)的研發(fā)和生產(chǎn)。我公司已成功地為國(guó)內(nèi)外的眾多家權(quán)wei性科研高校和生產(chǎn)廠商提供了太陽(yáng)能電池（光電材料）的測(cè)試系統(tǒng)等相關(guān)產(chǎn)品。

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